我校拟对一套四探针测量仪公开招标采购,详细技术要求如下:
使用目的:为了测量各种薄膜和半导体材料的方块电阻率、方块电阻、电导率和电阻ZAO薄膜是一种很好的透明导电薄膜,它的光学特性和电学特性,使它在很多方面都有了广泛的应用。其导电性能要通过四探针测量仪测量其面电阻确定,透光性可通过分光光度计来测量。由于实验室和课题组的需要,需要购买一套测量薄膜电阻率和薄膜方块电阻的设备,即四探针测量仪,下面是一些技术指标:
1) 测量范围:电阻率:10-4~105 Ω.cm;
方块电阻:10-3~106 Ω/□;
电导率:10-5~104 s/cm;
电阻:10-4~105 Ω;
2)电流量程可在1μA到100mA之间可调;
3)四探针探头基本指标:间距:1±0.01mm;
针间绝缘电阻:≥1000MΩ;
机械游移率:≤0.3%;
探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
探针压力:5~16 牛顿(总力);
4)测量精度:≤±0.5%渎值±2个字;
5)探针之间的距离:1±0.01mm;
6)数字电压表量程:0—199.9mV 灵敏度:100μV 输入阻抗:1000ΜΩ
基本误差为:0.4-0.5%读数+0.1%满度
7)探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
8)计算机,打印机;
9)测量结果不受气候条件的影响。
欢迎有投标意向的厂家或商家,携带有关资质证明复印件和招标费用到我校国资处设备科报名。
报名截止日期:20010年11月11日下午4时
报名地点:OD体育手机版app,OD体育(中国)未央校区行政楼501室
联系电话:86173142
联系人:李老师,陈老师,朱老师
OD体育手机版app,OD体育(中国)国资处
2010年11月1日